輻射干擾試驗(yàn)通常也叫做：輻射發(fā)射、輻射騷擾、機(jī)箱端口發(fā)射試驗(yàn)、輻射試驗(yàn)、RE試驗(yàn)等；輻射干擾以電磁波的形式散發(fā)出的電磁騷擾。
電子、電氣產(chǎn)品的電磁干擾主要是由其內(nèi)部電路在工作時(shí)造成的（比如開(kāi)關(guān)電源電路、振蕩電路、高速數(shù)字電路等）。干擾按傳播途徑，主要有沿電纜（包括電源線及信號(hào)線）方向傳播的傳導(dǎo)干擾（傳導(dǎo)發(fā)射）和向周圍空間發(fā)射的輻射干擾（輻射發(fā)射）。前者用干擾電平度量，后者則用干擾功率和輻射場(chǎng)強(qiáng)度量。
輻射干擾測(cè)試的目的是為了測(cè)試電子、電氣和機(jī)電產(chǎn)品及其部件所產(chǎn)生的輻射干擾，包括來(lái)自機(jī)箱、所有部件、電纜及連接線上的輻射干擾。試驗(yàn)主要判定其輻射是否符合標(biāo)準(zhǔn)的要求，以至于在正常使用過(guò)程中不對(duì)在同一環(huán)境中的其他設(shè)備或系統(tǒng)造成影響。
輻射干擾試驗(yàn)需要用到的儀器設(shè)備：
EMI自動(dòng)測(cè)試控制系統(tǒng)（包括電腦及軟件）；
EMI測(cè)量接收機(jī)；
各種天線（包括大小形狀環(huán)路天線、功率雙錐天線、對(duì)數(shù)周期天線、喇叭天線等）及天線控制單元等；
半電波暗室或開(kāi)闊場(chǎng)。
EMC整改的方法：
1、查找輻射源；
2、濾波：分為電容濾波、RC濾波、LC濾波；
3、吸收電磁波：電路串聯(lián)磁珠法、繞穿磁環(huán)法、貼吸波材料法；
4、接地法：?jiǎn)吸c(diǎn)接地、多點(diǎn)接地；
5、切斷傳播途徑：增加屏蔽，機(jī)箱機(jī)殼，耦合路徑上增加屏蔽等。
輻射干擾試驗(yàn)常用標(biāo)準(zhǔn)：
電磁兼容 通用標(biāo)準(zhǔn) 居住、商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境中的發(fā)射 GB 17799.3-2012，IEC 61000-6-3:2011；
信息技術(shù)設(shè)備的無(wú)線電騷擾限值和測(cè)量方法 GB/T 9254-2008，CISPR 22:2006；
信息技術(shù)設(shè)備、多媒體設(shè)備和接收機(jī) 電磁兼容 第 1 部分：發(fā)射要求 GB/T 9254.1-2021,CISPR 32:2015；
家用和類似用途電自動(dòng)控制器 第 1 部分：通用要求 EN60730-1:2016；
測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用的電設(shè)備 電磁兼容性要求 第 26部分：特殊要求 體外診斷（IVD）醫(yī)療設(shè)備 GB/T18268.26-2010，IEC 61326-2-6:2005；
工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療設(shè)備 射頻騷擾特性 限值和測(cè)量方法GB 4824-2019，CISPR 11:2016。
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